信息搜索：
当前位置 : 主页 > 技术文章 >

电工电子分层实验--集成逻辑门的功能测试

点击次数：   更新时间：2016-11-30 11:32     来源：未知 分    享:
　任务：
一、完成“与非”门、“或非”门的逻辑功能测试和门控制功能实验，应用逻辑门实现简单的组合逻辑电路。（C类）
（1）完成TTL“与非”门74LS00的逻辑功能及输入输出端电平的测试，将测试结果记录于表1中。
（2）完成CMOS“或非”门CD4001逻辑功能和门的控制功能测试，将逻辑功能测试结果记录于表1中，记录门控制功能实验的输入输出波形。
（3）用1片TTL“与非”门74LS00芯片实现“异或”运算，并进行逻辑功能测试，将测试结果记录于表1中。用“与非”门实现“异或”运算的逻辑表达式为：，逻辑电路图如图1所示。
表1门电路逻辑功能及“与非”门输入输出电平测试实验结果
逻辑关系测试结果 输入输出电平测试结果
A B A端电平值（V） B端电平值（V）    端电平值（V）
0 0            
0 1            
1 0            
1 1            
 
图1用“与非”门实现“异或”运算的电路图
二、用2片74LS00设计一个能实现“同或”运算的电路，并对电路进行逻辑功能测试，自行列表记录逻辑功能测试结果。（B类）
三、用1片CD4001设计一个能实现“同或”运算的电路，并对电路进行逻辑功能测试，自行列表记录逻辑功能测试结果。（A类） 
上一篇：电工电子分层实验--直流稳压电源
下一篇：电工电子分层实验--组合逻辑电路设计

相关资料

相关产品

上海育仰科教设备有限公司
联系人：张经理
联系电话：15216837090
公司电话：021-60766769
公司地址：上海市嘉定区鹤旋路26弄22号